Uso da espectroscopia de impedância para a determinação da constante micelar crítica

Abstract

A presente invenção se refere à aplicação da técnica de espectroscopia de impedância para a determinação da concentração micelar crítica de surfactantes iônicos e não-iônicos. O ajuste dos dados experimentais por um circuito contendo um elemento de fase constante em paralelo a um resistor permite que se tenham definidas duas regiões de comportamento linear distinto para a curva característica R~ CPE~ versus concentração. O valor específico da concentração do surfactante em que ocorre a interseção entre essas duas diferentes derivadas (ou seja, a 'quebra' nas retas) coincide com a concentração micelar crítica e é também o ponto em que se tem um máximo no gradiente de variação na impedância medida (uma condição que se reconhece como necessária para a proposta de uma nova técnica na descrição do fenômeno de agregação). Esta técnica pode ser aplicada também ao estudo da concentração de agregação crítica (CAC), típica de corantes, além do estudo de agregação em sistemas compostos por moléculas anfifílicas (como derivados de retinal).