Emprego de simulação no controle de qualidade em cartografia aplicado a modelos digitais de superfícies oriundos de sensores orbitais segundo PEC-PCD

Abstract

As informações e características com respeito ao relevo são de fundamental importância para o planejamento e a execução de obras de engenharia. Atualmente, além do método convencional de obtenção de dados altimétricos através de levantamento topográfico, existem novos métodos e tecnologias para obtenção desses dados dentre os quais se destaca a estereoscopia de imagens orbitais, a interferometria SAR (Radar de Abertura Sintética) e o perfilamento a laser. Considerando a facilidade de aquisição de várias fontes de informações altimétricas que são disponibilizadas na internet, a qualidade altimétrica dos MDSs obtidos a partir de sensores orbitais tem recebido importante destaque. Pesquisas têm sido direcionadas no desenvolvimento de metodologias para a geração e validação de dados altimétricos de diferentes sensores. Dessa forma, a presente pesquisa apresenta a análise comparativa da qualidade posicional altimétrica dos modelos SRTM, ASTER GDEM e TOPODATA, utilizando diferentes tipos de amostragem e a aplicação de simulação com diferentes tamanhos amostrais, tendo como referencia dados de maior precisão, obtidos através de aerofotogrametria e levantamento via GNSS. Todo o trabalho levou em conta o Padrão de Exatidão Cartográfica dos Produtos Cartográficos Digitais (PEC-PCD), definido na nova norma de qualidade, considerando a abordagem proposta pela CONCAR (2011) no Brasil.